人工晶狀體半成品測量儀的優(yōu)勢主要表現(xiàn)在哪些方面

更新時間：2019-11-14 點擊次數(shù)：1999

　　設(shè)備包括一套由低摩擦系數(shù)材料制造而成的內(nèi)徑誤差在±0.04mm以下的圓柱孔座和一臺度為0.5度的光學(xué)角度測量儀組成。用于測試人工晶狀體在一個處方直徑內(nèi)的支撐眼組織和接近*接觸狀態(tài)。

　　1.測量散光，軸線及殘余散光。

　　2.數(shù)值化和圖形化整個表面的曲率分布。

　　3.測量鏡片表面任何區(qū)域的曲率半徑。

　　4.干涉條紋可以體現(xiàn)整個表面的光學(xué)特征。

　　5.對刀分析功能能夠提供加工過程中刀具的各種珍貴信息，如刀具精度，是否對準(zhǔn)，是否磨損等。

　　6.不需要特殊的防震平臺。

　　7.可測量樣品的整個表面區(qū)域，包括環(huán)形區(qū)域。

　　8.可以輕易分辨細微的表面缺陷，即便是某些其他設(shè)備不可見的細節(jié)。

　　此外，干涉條紋圖能夠提供一些用于定性的信息，以反映出如下生產(chǎn)過程中可能發(fā)生的問題：

　　對刀不準(zhǔn)

　　金剛石刀具磨損

　　車床速度過快

　　軸向控制不良（如共振）

　　拋光等級

　　以上便是今天關(guān)于人工晶狀體半成品測量儀的優(yōu)勢主要表現(xiàn)在哪些方面的全部分享了，希望對大家今后使用本設(shè)備能有幫助。

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